Η Μικροσκοπία Σάρωσης Ηλεκτρονίων (Scanning Electron Microscopy, SEM) αποτελεί μία σύγχρονη και ευέλικτη μέθοδο ανάλυσης, σχεδιασμένη για απευθείας παρατήρηση επιφανειών στερεών δειγμάτων. Η τεχνική είναι κατάλληλη για μελέτη μορφολογίας και μικροδομής δειγμάτων καθώς και στοιχειακής ανάλυσης σημείου ή μικρής επιφάνειας. Η λειτουργία του οργάνου βασίζεται στην αλληλεπίδραση του δείγματος με δέσμη ηλεκτρονίων υψηλής ενέργειας (στο οπτικό μικροσκόπιο το δείγμα αλληλεπιδρά με φωτόνια) με αποτέλεσμα απεικονίσεις μεγάλων μεγεθύνσεων.

Το όργανο του εργαστηρίου είναι το μοντέλο Quanta 200, συνδυασμένο με φασματόμετρο Ακτίνων Χ ενεργειακής διασποράς (EDAX), της εταιρίας FEI.

Δοκιμές που μπορούν να πραγματοποιηθούν

• Χαρακτηρισμός υλικών, στα πεδία μελέτης της μορφολογίας και σύστασης της μικροδομής στερεών δειγμάτων όπως: βιολογικά υλικά, φιλμ, μεμβράνες, φίλτρα, ίνες, ρητίνες, τέφρες, τσιμέντα, χώματα, μεταλλικές επιφάνειες κ.α.
• Ημιποσοτική στοιχειακή ανάλυση σημείου και επιφάνειας (% κ.β.)

Παρατηρήσεις

• Μελέτη στερεών δειγμάτων υπό μορφή σκόνης απαιτεί επιχρύσωση του δείγματος. Σε αντίθετη περίπτωση υπάρχει κίνδυνος σοβαρής βλάβης. (Μονάδα επιχρύσωσης διαθέτει το Εργαστήριο Φυσικών Διεργασιών).
• Τα δείγματα απαιτείται να έχουν καθαριστεί επιμελώς προς απομάκρυνση κάθε ίχνους σκόνης