Μενού Κλείσιμο

Φασματόμετρο Περίθλασης Ακτίνων X

X-Ray Diffraction Analysis (XRD)

Η τεχνική είναι κατάλληλη για την ταυτοποίηση και την μελέτη της κρυσταλλικής δομής των διαφόρων ενώσεων (οργανικές, ανόργανες, ορυκτά, μέταλλα, κλπ) σε πληθώρα ερευνητικών πεδίων  (υλικά, πολυμερή, νανοϋλικά, βιοτεχνολογία, φάρμακα κλπ).

Το όργανο του εργαστηρίου είναι το μοντέλο D8 Advance Twin/Twin, της εταιρίας BRUKER

Δοκιμές που μπορούν να πραγματοποιηθούν

  • Ανίχνευση και ταυτοποίηση κρυσταλλικών φάσεων
  • Προσδιορισμός κρυσταλλικής δομής
  • Προσδιορισμός κρυσταλλικότητας
  • Ποσοτικός προσδιορισμός κρυσταλλικών φάσεων (με ανάλυση Reitveld)

Παρατηρήσεις

  • Μελέτη στερεών δειγμάτων υπό μορφή σκόνης.
  • Για βέλτιστα αποτελέσματα απαιτείται η σκόνη των δειγμάτων να είναι ξηρή (χωρίς ίχνος υγρασίας) και να είναι αρκετά λεπτόκοκκη (μορφή πούδρας)
  • Συμπαγή στερεά δείγματα ή λεπτά πολυμερικά φιλμ αντιμετωπίζονται κατά περίπτωση ανάλογα με τη δυνατότητα προσαρμογής στο δειγματοφορέα